確かな技術で電子計測の未来を拓く。
電子計測制御システムのコンサルティング・分析・設計・開発まで一貫したシステム開発をご提案します。
半導体関連計測
温度電圧ストレス試験
半導体素子の初期特性を測り、温度ストレス、電圧ストレスをかけ再度特性測定を行うことにより素子特性を試験。測定結果をEXCELファイルで出力。
ＴＤＤＢ試験システム
同時に96個のデバイスのTDDB試験。試験終了後、故障した時間 vs 座標に並び替え、ワイブル分布、欠陥密度関数で信頼性を評価。
リチウム電池計測
リチウムイオンバッテリー評価試験
１台のパソコンで電池パック４個分の測定を同時並行して行い、それぞれ個々の電池パック毎に、測定の中断・継続を行います。
高周波関連計測
列車無線移動局自動計測システム
新幹線移動局と構内防護無線機の送信機及び受信機を測定して結果を規格値と共に印刷。
Software Development
多彩な開発環境(OS)・開発言語・DBに対応
Product Infomation
当社開発の計測機器システムをご紹介
日本メカトロンは、産業技術総合試験研究所の次世代電池の共同研究を行っています。新たな時代をリードする最新技術に積極的に挑戦しています。
